產(chǎn)品名稱：GBT1410-2006體積表面電阻率測定儀

產(chǎn)品型號：LST-121、ATI-212

產(chǎn)品品牌：縱橫金鼎

測試項目：體積電阻、表面電阻、體積電阻率、表面電阻率、絕緣電阻、電阻率、微電流等

符合標準：GB/T1410-2006、ASTM D257-99

顯示方式：液晶屏、觸摸屏

試用材料：固體、液體、粉體等絕緣材料類

電阻范圍：1×104Ω～1×1018Ω

電流范圍：2×10-4Ａ～1×10-16Ａ

電壓檔位：10V、25V、100V、250V、500V、1000V

精    度：1%

主機重量：5KG

主機尺寸：300*170*120mm、360*350*170mm

屏蔽箱尺寸：200*200*100mm

采用方法：三電極法

主要組成：主機、屏蔽箱、電極

出據(jù)證書：514所、304所、科學研究院等單位均可

產(chǎn)品特點：體積小、重量輕、精度高、讀數(shù)方便等

 GBT1410-2006體積表面電阻率測定儀符合標準：

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》 

ASTM D257-99 《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》 

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》

GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》 

GB/T 1692-2008《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》 

GB/T 12703.4-2010《紡織品 靜電性能的評定 第４部分：電阻率》 

GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》

 體積電阻率表面電阻率測定儀概述

本儀器既可測量高電阻，又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計和電流。量限從1×104Ω～1×1018 Ω，是目前國內測量范圍寬，準確度的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機內測試電壓為100/250/500/1000V任意可調。

體積電阻率表面電阻率測定儀主要特點

電阻測量范圍寬：0.01×104Ω～1×1018Ω

電流測量范圍為：2×10-4Ａ～1×10-16Ａ

體積小、重量輕、準確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

所有測試電壓(100/250/500/1000V) 測試時電阻結果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。既能測超高電阻又能測微電流

 體積電阻率表面電阻率測定儀技術指標

1、電阻測量范圍：0.01×104Ω～1×1018Ω

2、電流測量范圍為：2×10-4A～1×10-16A

3、雙表頭顯示：3.1/2位LED顯示

4、內置測試電壓：100V、250V、500V、1000V

5、基本準確度：2% (*注)

6、內置測試電壓：10V、25V、100V、250、500、1000V

7、使用環(huán)境：溫度：0℃～40℃相對濕度<80%

8、供電形式：AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸：285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質量：約2.5KG

體積電阻率表面電阻率測定儀工作原理

根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結果經(jīng)過A/D轉換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結果影響不大，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

體積電阻率表面電阻率測定儀典型應用

1.硫化橡膠體積、表面電阻率測定

2.測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

3.測量防靜電材料的電阻及電阻率

4.測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

5.測量絕緣材料電阻(率)

6.光電二極管暗電流測量

7.物理,光學和材料研究

8.高分子材料表面體積電阻率測定

體積電阻率表面電阻率測定儀標準配置：